X 光螢光 (XRF) 分析是一項利用初級X 光與物質之間獨特互動的技術。所有的物質都是由原子所組成,而每個原子中心都有一個原子核,由於質子 (正電荷) 和中子 (無電荷) 的存在,其帶有正電。電子 (負電荷) 會以離散量子的方式環繞原子核,其被稱為殼層。其總負電荷會與原子核的正電荷相互平衡,使原子呈現中性。此可藉由引進外部能量,如 X 光,來改變。X 光具有非常短的波長,因此能量非常高,其會在通過物質時被吸收 – 取決於物質的成分和密度。
當具足夠能量的 X 光撞擊到原子時 (超越原子殼層的束縛能),則會有軌道殼層最內層的電子彈出,形成空缺。較高原子軌道的電子會被下拉至此較低能量狀態的空缺。此需能量以螢光或次級 X 光的形式發射,其等同於電子的兩種量子狀態之間的特定能量差異。
週期表上的各個元素皆具有其獨特的次級 X 光。透過 XRF 分析樣本時,樣本中所有元素都會以光譜形式發出這些獨特的 X 光訊號。此光譜又稱為元素指紋,為 EDXRF 和 WDXRF 效能的核心。
取得清晰的 XRF 光譜可能會因一些限制而變得複雜,如 (Rayleigh 或 Compton 散射、光譜效果、基質效應等)。為確保結果的準確性,執行經驗校準或基本參數 (FP) 分析往往至關重要。
在 EDXRF 分析中,存在於讀數中的元素,其特徵 X 光會分散至完整的螢光能量光譜中,使用直接激發 (2D 光學)或間接激發 (3D 光學)。您可以使用下表下載我們的指南海報,進一步瞭解每一項的激發幾何學。EDXRF 技術經過精心設計,可同時處理全族元素以進行定性或定量分析,並可以以便攜式和桌上型使用。因此 EDXRF 可用於幾乎任何形狀和大小的樣本。
WDXRF 較 EDXRF 更適用於高解析度應用 (~15-150 eV),以及對原子序數較低的元素和稀土元素進行分析。WDXRF 一般並不採集完整光譜,而是利用晶體和一系列光學元件 (準直儀、光編碼器、偵測器等) 將螢光訊號按照其波長分離再進行分析。
EDXRF 和 WDXRF 在多個领域提供完整稳定的解決方案,可以執行各種關鍵元素的分析,包括金屬與合金製造、石油化學、鑑識、食品分析、環境分析,等諸多應用。