製造最安全的產品
電氣及電子商品製造商需要可靠的驗證、測試及篩檢技術，以便遵循全球有害物質限用 (RoHS) 規範。RoHS II、醫療器材 RoHS 或 RoHS Recast 等新修訂的 RoHS，除了與原始 RoHS 指令一樣規範相同的有害物質及濃度上限以外，也納入特定醫療器材、監測及控制儀器和纜線等項目。業界也訂定計畫生產無鹵素防火產品，涵蓋消費者電子產品乃至於家具等各種產品。以上所有規範讓品牌業者、組裝廠及 PCB 製造商都必須確實盡職查核。
RoHS 規範持續改變及擴大範圍，因為有越來越多資料顯示日常使用產品之中隱藏的危險。Thermo Scientific Niton X 光螢光 (XRF) 技術可因應這些持續演進發展的規範，協助在所有製造階段驗證法規遵循。本公司分析儀的偵測限制遠低於業界定義閾值，能夠高度精確偵測五種 RoHS 禁用的常見物質，以及氯和溴等鹵素元素。
- 量化鉛 (Pb)、鎘 (Cd)、汞 (Hg)、鉻 (Cr) 及溴 (Br) 的總量。
- 針對每個樣品提供通過/未通過指定結果，並目視鑑定不符規格的元素。
- 採用非破壞性分析技術，可在幾秒鐘內於製造現場提供可靠結果，不再出現生產延遲問題。
- 加速篩檢更多材料，減少限用材料進入製程的機會。
印刷電路板 (PCB) 及元件：有毒元素可能隱藏在最小的縫隙之中。Niton 分析儀配備 CCD 攝影機，能夠由最小 1mm 的取樣區域精準定位、擷取及儲存樣品資料。Niton 分析儀能夠以非破壞方式迅速分析異質樣品的小型電子元件，涵蓋進料材料至成品。
焊料：可在製程任何階段於棒材、線材及膏材等各種焊料之中驗證鉛含量，即使是焊錫槽也沒問題，範圍涵蓋焊料卷至滿 PCB 的微小焊料點。Niton 分析儀提供獨特的 TestAll 功能，能夠區別測試物體表面與基材的鉛。
錫單結晶： 高純度錫 (Sn) 可能造成絲狀腐蝕，也就是所謂的「單結晶」。單結晶是一種自然發生的現象，會自發形成無法解釋的微小針狀突起，出現鬆脫、系統電路板及端子短路、嚴重皺曲，或破壞整個系統等問題。Niton 分析儀可鑑定錫合金之中的禁用物質，降低系統故障風險。
我們可協助確保製造計畫完全遵循法規，同時大幅強化生產製程。
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